有关长度测量机的其他信息

1、测长机的使用方法

许多长度测量机中使用的卧式长度测量机由床身、在床身上移动的内置标准尺的滑架、观察标准尺的千分尺显微镜以及施加恒定测量的装置组成。它由放置在地面上的测量表面和支撑待测量物体的测量支架组成。已知该水平长度测量仪具有满足阿贝原理的结构和满足埃彭斯坦原理的结构。

在满足阿贝原理的结构的卧式长度测量机中，可以忽略物体的测量轴线和标准长度，从而避免由于工件的不直线性而与滑架测量轴线的角度偏差而产生的测量误差。可以忽略床。通过将刻度平面放置在同一直线上来进行测量。

另一方面，在具有满足埃彭斯坦原理的结构的卧式长度测量机中，为了消除由于床身不直而引起的测量误差，测量被测体的测量轴与标准件之间的距离。分离是通过将物镜的焦距配置为与标准刻度相等，并将透镜的焦平面光学地放置在标准刻度上来进行测量。

2、激光测长机

激光测长机用激光照射物体，利用反射光来测量物体的距离。激光长度测量机根据其测量的距离被称为“位移传感器"或“距离传感器"。

位移传感器

一种以微米为单位测量短距离（几十毫米到几百毫米）的长度测量装置。

距离传感器

一种以毫米为单位测量长距离（几毫米到几米）的长度测量装置。

上述长度测量机所使用的测量方法包括“三角测量法"和“飞行时间(ToF)法"。

三角测量法

这是一种利用基于反射光的三角测量原理的测量方法。长度测量装置由发光元件和光接收元件组成。使用半导体激光器作为发光元件。测量方法是将半导体激光器聚焦的激光通过投影透镜照射到物体上。照射到物体上的激光的漫反射的一部分经由受光透镜在受光元件上形成光斑图像。通过检测和计算成像点的位置，可以测量物体的位移量。

注意，CMOS方法将CMOS(互补金属氧化物半导体)用于光电检测器，并且CMOS方法将CCD(电荷耦合器件)用于光电检测器被称为CCD方法。

飞行时间 (ToF)

是一种通过测量照射光从物体反射并被接收器接收所需的时间来测量距离的方法。已知两种已知的方法：利用发射光波长和接收光波长之间的相位差的“相位差距离法"，以及以固定脉冲投射激光的“脉冲传播法"。宽度。 。